EN 60749-29:2003-12

Standards
putilov_denis / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 29: Latch-up-Prüfung

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
17.11.2003 Historisch
IEC 60749-29:2003-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
18.07.2003 Historisch
prEN 60749-29:2003-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung
Standards
putilov_denis / Fotolia
14.01.2011 Historisch
FprEN 60749-29:2011-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 29: Latch-up-Prüfung

Ersetzt bzw. ergänzt:

Standards
putilov_denis / Fotolia
19.08.2011 Aktuell
EN 60749-29:2011-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-29:2003-12

IEC 60749-29:2003-11
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
15.12.2003
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung

Folgen Sie uns
© 2024 DKE – VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.